QUDORA、耐故障設計にQC Designの「Plaquette」を導入
QUDORAは2025年12月3日、QC Designの量子設計自動化プラットフォーム「Plaquette」を研究開発工程に導入したと発表した。独自のNear Field Quantum Control(NFQC)技術を用いるイオントラップ量子プロセッサについて、量子誤り訂正符号や制御シーケンスを含む耐故障アーキテクチャ全体を設計段階で評価する。
発表概要
Plaquetteは、耐故障量子コンピューティングのアーキテクチャをシミュレーション、分析、最適化するための設計自動化プラットフォームである。QC Designによると、20種類を超えるハードウェアの不完全性をモデル化でき、量子誤り訂正符号とデコーダーのライブラリも備える。 QUDORAのNFQCは、一般的なレーザー制御に代えてオンチップの近接場マイクロ波を利用し、量子ビットを制御する方式である。半導体製造技術を使って複雑な2次元アレイへ統合する構想を持つ。今回の導入では、このハードウェア構成に適した誤り訂正符号と制御手順を検討し、設計から製造へ移る前の評価と最適化を進める。
重要ポイント
- QC DesignのPlaquetteをQUDORAの研究開発工程に統合した
- 量子誤り訂正符号と制御シーケンスを含む耐故障設計全体を評価する
- QUDORAのNFQCは、オンチップの近接場マイクロ波でイオン量子ビットを制御する
- 具体的な誤り率、論理量子ビット数、導入費用、実用化時期は公表されていない
技術・事業上の意味
技術面では、半導体プロセスによるハードウェアの拡張性だけでなく、量子誤り訂正を含むシステム全体を製造前に検討する取り組みとなる。NFQC固有の制約や不完全性を設計へ反映できれば、ハードウェア効率を考慮した論理量子ビットの構成を探る手段になる。事業面では、専用ソフトウェアの活用により社内で同等の評価環境を構築する負担を抑え、耐故障アーキテクチャの設計リスクと開発期間を減らす狙いがある。ただし、効果を示す定量的な結果は今回の発表に含まれていない。
今後の注目点
今後は、物理誤り率や論理誤り率、誤り訂正に必要な量子ビット数など、Plaquetteによる評価結果が定量的に示されるかが焦点となる。設計上の最適化がNFQCの実機や2次元アレイで検証されるか、設計から製造へ進む具体的な段階が示されるかも重要である。加えて、耐故障動作に向けた開発時期や両社の連携範囲が具体化するかが事業進展の判断材料となる。
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